基于超平表面的原子力显微镜探针磨损研究

基于超平表面的原子力显微镜探针磨损研究标题：基于超平面表面的原子力显微镜探针磨损研究摘要：原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）在纳米尺度下的表征和测量起到了关键作用。