基于相容性变换的测试激励压缩方法研究的开题报告

基于相容性变换的测试激励压缩方法研究的开题报告一、研究背景随着芯片工艺的不断进步和集成度的提升，现代芯片体积和复杂度越来越大，测试压缩成为芯片测试的一个重要技术手段。测试压缩技术能够缩短测试时间，降低