扫描隧道显微术对低维电子体系的物性研究的任务书

扫描隧道显微术对低维电子体系的物性研究的任务书任务书一、任务背景高性能材料的发现和研究是当今材料领域的重要趋势之一。从德州仪器公司（TI）于1992年研制出的第一块二维电子系统（2DES），到2010