变长编码在SoC测试中的应用研究的开题报告

变长编码在SoC测试中的应用研究的开题报告一、选题背景与意义随着现代化数字电子技术的飞速发展，集成电路（SoC）的应用越来越广泛。现代SoC通常具有高复杂度、高密度、高速度等特点，因此在设计、制造和测