专用集成电路设计实践西电版第6章ASIC测试技术概述教案

- 6.1 常用测试设备及仪器简介 6.1.1 探针台   半导体生产过程中的探测大约分为三大类:  (1) 参数探测: 提供制造期间的装置特性测量。 

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