专用集成电路设计实践西电版第6章ASIC测试技术概述教案
- 6.1 常用测试设备及仪器简介6.1.1 探针台 半导体生产过程中的探测大约分为三大类: (1) 参数探测: 提供制造期间的装置特性测量。
专用集成电路设计实践西电版第6章ASIC测试技术概述教案