电池片经EL测试局部较黑对组件会有什么影响

电池片经EL测试局部较黑对组件会有什么影响？1.0绪论近年来，单晶硅片供应商为了利益最大化，奉行只要单晶不掉苞就是好工艺。无位错拉晶工艺要求籽晶用无位错拉晶切割，在拉晶过程中下种引颈长度要大于一个晶锭