基于ATPG的逻辑电路老化试验输入矢量选择方法研究的任务书

基于ATPG的逻辑电路老化试验输入矢量选择方法研究的任务书一、研究背景随着现代电子技术的不断发展，集成电路的制造工艺也在不断进步。但是，在实际应用中，电子器件在长期使用过程中会不可避免地发生老化现象，