基于高分辨力CCD的大口径光学元件疵病检测

基于高分辨力CCD的大口径光学元件疵病检测随着大口径光学元件在现代科技中应用的不断扩大，对于其质量的要求也日益严格。而在光学元件制作过程中，疵病检测是一个非常重要的环节。为了保证光学元件的质量和正常的