一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案

一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案摘要：随着集成电路技术越来越先进，集成电路测试也变得越来越重要。目前，大多数集成电路测试都是通过内置自测试技术（BIST）来完成的。本文介绍了一种基于自选择状