片上系统芯片（SoC）的CP测试程序优化及良率提升的综述报告

片上系统芯片（SoC）的CP测试程序优化及良率提升的综述报告随着电子产品的发展，芯片集成度越来越高，片上系统芯片（SoC）作为一种高度集成的芯片设计方案，被广泛应用于各种电子产品中。然而，SoC测试程