基于折叠集合的确定模式BIST的低功耗设计

基于折叠集合的确定模式BIST的低功耗设计随着集成度不断提高和芯片越来越复杂，测试和故障诊断成为半导体工业中至关重要的一个环节。确定性模式BIST（Built-in Self Test）作为一种常用的