张焱森半导体电阻率测量实验汇总

半导体电阻率测量实验201509064272 张焱森实验目的通过用四探针法测量半导体晶片的电阻率，了解半导体材料的基本电学特性与材料中载流子浓度和迁移率的关系，掌握一种测量半导体材料的电阻率并进一步分