基于单层二氧化锰纳米片的荧光分析新方法研究

基于单层二氧化锰纳米片的荧光分析新方法研究摘要：荧光分析是现代化学分析技术的重要分支，在许多领域得到广泛应用。本文研究了基于单层二氧化锰纳米片的荧光分析新方法，探讨了其原理、特点、优势和应用。结果表明