单晶铜键合丝退火过程中氧化机理研究

单晶铜键合丝退火过程中氧化机理研究摘要：单晶铜键合丝的氧化过程始终是制约其应用的重要因素，为了研究这一现象，我们在实验室中对铜键合丝进行了不同温度下的退火处理，通过SEM、XRD等手段对其氧化机理进行