基于AT89C52单片机的多点温度测试系统设计

基于AT89C52单片机的多点温度测试系统设计摘 要：集成电路的大规模发展对单片机控制电路的实际运用有着巨大的推动作用。单片机具有体积小、重量轻、价格便宜、低功耗、控制功能强及运算速度快等特点，使其