金属外壳引线键合可靠性研究

-　27 - 金属外壳引线键合可靠性研究张　　崎,姚　　莉(中国电子科技集团公司第43研究所,合肥 230043摘　要:引线键合以工艺简单、成本低廉、适合多种封装形式的优势,在连接方式中占主导地位。其