电子元器件失效分析技术及经典案例(李少平)资料.doc

电子元器件失效分析技术及经典案例【时间地点】 2012年11月09-10日 深圳 | 2012年11月16-17日 苏州 【参加对象】 电子元器件､电路板或整机企业的设计工程师､质量工程师､工艺工程师