金属箔式应变片的温度影响实验

金属箔式应变片的温度影响实验一、实验目的：了解温度对应变片测试系统的影响。二、基本原理：电阻应变片的温度影响，主要来自两个方面。敏感栅丝的温度系数，应变栅线膨胀系数与弹性体(或被测试件)的线膨胀系数不