基于FPGA的逻辑芯片功能测试系统的研究与设计的中期报告

基于FPGA的逻辑芯片功能测试系统的研究与设计的中期报告中期报告一、研究内容本研究旨在设计和实现一种基于FPGA的逻辑芯片功能测试系统，可用于对不同类型的逻辑芯片进行测试和验证。研究内容涵盖以下方面：