微系统测试技术发展动向及对策

微系统测试技术发展动向及对策提供依据，这最多能将研发时间缩短15％。在产品 S 24 试生产阶段，在片测试技术可以验证生产器件性能 笔 一致性及工艺稳定性，从而为研制开发出可量产的 1