基于边界扫描的处理器测试分析与研究的综述报告

基于边界扫描的处理器测试分析与研究的综述报告边界扫描是处理器测试的一种重要技术，其通过测试芯片的输入和输出边界来检测处理器中可能存在的问题。 本文将综述边界扫描技术在处理器测试中的应用、优点和缺点以及