一种基于整体退火遗传算法的动态IR Drop分析新方法

一种基于整体退火遗传算法的动态IR Drop分析新方法摘要IR Drop是IC设计和制造中常见的一种电源噪声问题，它会对芯片的性能和可靠性产生负面影响。因此，在集成电路设计中，准确和高效地分析IR D