射线照相检验技术的理论基础和基本技术

第3章 射线照相检验技术的理论基础和基本技术3.1 射线检测的基本原理图3-1 射线检测基本原理当强度均匀的射线束透照射物体时，如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异，它将改变物体对射线的衰减，

3 第章射线照相检验技术的理论基础和基本技术 3.1 射线检测的基本原理 当强度均匀的射线束透照射物体时，如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异， 它将改变物体对射线的衰减，使得不同部位透射射线强度不同，这样，采用一定的检测 器（例如，射线照相中采用胶片）检测透射射线强度，就可以判断物体内部的缺陷和物 质分布等。 31 如图所示，设阶梯上存在一很小的厚度 - 差， 则有 I ＝＋；＝＋ II' —— 式中，透射的一次射线强度； DD 31 图射线检测基本原理 - —— ，透射的散射射线强度； I —— ，透射射线强度。 TT 由于有远小于，因此可认为 ＝ 所以有 III ＝＝ D ＝＝ 按单色窄束射线衰减规律有 ＝ ＝