材料分析方法第八章扫描电子显微镜与电子探针显微分析

- 引 言 - SEM用于材料分析的特点① 仪器分辨本领较高。二次电子像分辨本领可达1.0nm(场发射),3.0nm(钨灯丝)；② 仪器放大倍数变化范围大（从几倍到几十万倍），且