高压关态应力下GaN基射频HEMT器件的退化机制研究的任务书

高压关态应力下GaN基射频HEMT器件的退化机制研究的任务书任务书一、研究背景高电压操作下，GaN基射频HEMT器件面临着退化和失效的问题，这主要是由于高压关态应力引起的器件内部结构变形和电场增强造成