不同光谱预处理方法的鲜杏缺陷支持向量机识别

不同光谱预处理方法的鲜杏缺陷支持向量机识别摘要：为探求一种快速有效识别缺陷鲜杏无损检测方法，利用高光谱成像技术对其进行检测。首先借助可见近红外高光谱成像系统获取鲜杏高光谱图像数据，提取感兴趣区域的光谱