基于多光谱多尺度类激活映射的弱监督缺陷分割

基于多光谱多尺度类激活映射的弱监督缺陷分割摘要：缺陷分割是工业检测和质量控制中关键的任务之一。然而，由于缺乏充足的标注数据，基于弱监督的缺陷分割仍然是一个具有挑战性的问题。为了解决这个问题，本文提出了