集成电路输出异常失效分析案例
Ag迁移致集成电路输出异常失效分析1.案例背景某功能模块在用户端出现功能失效,经返厂检修,发现该模块上的一片IC输出异常,经更换IC后,功能模块恢复正常。2.分析方法简述对样品进行外观观察,未发现明显
集成电路输出异常失效分析案例