NBTIPMOS薄栅氧PMOS器件的HCI效应和NBTI效应

可靠性：PMOS 薄栅氧PMOS器件的HCI效应和NBTI效应《半导体制造》2006年10月刊作者：Joyce Zhou、 Jeff Wu、 Jack Chen、 Wei-Ting Kary Chie