光学分析天平不等臂现象的调整
光学分析天平不等臂现象的调整一、光学分析天平的基本原理 光学分析天平是一种利用光束的干涉现象进行质量测定的仪器。其基本原理是:当一束光线通过一个棱镜分开成两束光线时,经过一系列的反射和干涉作用后再合并
光学分析天平不等臂现象的调整