基于单测点的模拟集成电路测试系统设计的开题报告

基于单测点的模拟集成电路测试系统设计的开题报告一、选题背景随着集成电路技术的不断发展，测试已成为芯片加工制造中不可或缺的重要环节。为了确保芯片质量，有效的测试系统不仅需要具备高效、准确、可靠的测试能力