基于RC充放电的NTC热敏电阻测温试验

基于RC充放电的NTC热敏电阻测温试验 利用单片机I/O口使用RC充放电原理进行温度测量，前提是单片机的I/O口应有高阻功能，若为AT89C51/AT89C2051系列单片机其I/O口为准双向口