椭偏光法测薄膜的折射率和厚度

实验五 椭偏光法测薄膜的折射率和厚度 一、引言 椭圆偏振测量术简称椭偏术。它是利用光的偏振性质，将一椭圆偏振光射到被测样品表面，观测反射光偏振状态的变化来推知样品的光学常数。就其理论范畴来