材料的化学成分和显微形貌测定

材料的化学成分和显微形貌测定以光盘抛光加工所用的抛光粉为例，用X-射线荧光光度法（XRF）测定其化学成分如下（质量百分含量）： 用扫描电子显微镜测定其显微形貌如下： 放大5000