半导体材料能带测试及计算

半导体资料能带测试及计算对于半导体，是指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的资料，其拥有必然的带隙(Eg)。平时对半导体资料而言，采用合适的光激发能够激发价带(VB)的电子激发到导带(CB)，产生电子