实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1．掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。2．掌握TTL器件的使用规则。3．进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法

实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 一、实验目的 1．掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。 2．掌握TTL器件的使用规则。 3．进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法。 二、实验原理 1．与非门的逻辑功能 与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只 有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。） 其逻辑表达式为 Y=。 2．TTL与非门的主要参数 （1） 低电平输出电源电流I和高电平输出电源电流I。 CCLCCH 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。I是指所有输入端悬空，输 CCL 出端空载时，电源提供器件的电流。I是指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接 CCH 地，电源提供给器件的电流。通常I>I,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件的 CCLCCH 最大功耗为P=VI。手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的 CCLCCCCL 功耗。I和I测试电路如图1-2(a)、(b)所示。 CCLCCH （2） 低电平输入电流I和高电平输入电流I。 iLiH I是指被测输入端接地，其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流值。在多级门 Il 电路中，I相当于前级门输入低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门 iL 的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望I小些。 iL I是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，流入被测输入端的电流值。在多级门 iL 电路中，它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电 流负载能力希望I小些。由于I较小，难以测量，一般免于测试。 iHiH I的测试电路如图1-2(c)所示。 iL 图1-2 TTL与非门静态参数测试电路图 （3） 扇出系数N O N是指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，TTL与非门 O 有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载，因此有两种扇出系数，即低电平扇出 系数NH和高电平扇出系数N。通常I<I，∴N>N，故常以N作为门的扇出系数。 OLOHiHiLOHOLOL N的测试电路如图1-3所示，门的输入端全部悬空，输出端接灌电流负载R，调节R OLLL