石英晶体元件的潜在失效模式和效因分析

英晶体元件的潜在失效模式和效因分析——FMEA英晶体元件在生产中经常发生这样或那样的质量问题，一般的失效模式有室温调整频差大；温度频差超差；谐振电阻大及其变化大；频率和谐振电阻不稳；停振；并电容大；动