原子力显微镜中探针与样品的塑性接触对形貌测量的影响的开题报告

原子力显微镜中探针与样品的塑性接触对形貌测量的影响的开题报告一、选题背景原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）是一种利用微机械原理、控制系统和微电子技术的高分辨率测量