超大规模芯片的扫描链设计与实现的开题报告

超大规模芯片的扫描链设计与实现的开题报告一、选题背景及意义随着芯片制造工艺的不断进步和推广，集成度和复杂度不断提升，芯片规模也随之增大，达到了数量级级别。在如此复杂的设计中，设计验证和测试是至关重要的