基于平行平板扫描式回转体直径测量系统研究的中期报告

基于平行平板扫描式回转体直径测量系统研究的中期报告中期报告：一、研究背景：在现代工业生产中，直径测量对于产品的质量控制非常重要。基于平行平板扫描式回转体直径测量系统，这个系统是一种常见的直径测量系统。