高温环境及大电流密度应力下GaN基欧姆接触退化机理的研究的开题报告

高温环境及大电流密度应力下GaN基欧姆接触退化机理的研究的开题报告一、研究背景和意义近年来,宽禁带半导体材料GaN在射频功率放大、高功率开关、紫外光发射等方面的应用广泛受到关注。欧姆接触在GaN器件中

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