腾讯文库搜索-现代材料分析方法(英文)
现代材料分析方法原子力显微镜
- 第五章 原子力显微镜 Atomic Force Microscope __ AFM - 原于力显微镜与前几种显微镜相比有明显不同,它用一个微小的探
材料分析方法课后答案
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( )A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( )Kα
材料分析方法总结
第一章 X 射线物理学基础一、X 射线产生的主要装置和条件主要装置:阳极靶材、阴极灯丝条件:a. 大量自由电子;b. 定向高速运动;c. 运动路径上遇到障碍(靶材)二、短波限一个电子在与阳极靶撞击时,
材料分析方法
- 一、基本原理X射线衍射分析以晶体结构为基础,每种结晶物质都有其特定的结构参数,包括点阵类型、单胞中原子种类、数目和位置及单胞大小等这些结构参数在X射线衍射花样中必有所反映多晶体物质衍射线条的数目、
现代材料分析方法试题及答案2资料
《现代材料分析方法》期末试卷 1一、单项选择题(每题 2 分,共 10 分) 1.成分和价键分析手段包括【 b 】 (a)WDS、能谱仪(EDS)和 XRD (b)WDS、EDS 和 XPS (c
现代材料分析方法第八章透射电子显微镜
- 第八章 透射电子显微镜 - §绪论 §8.1 透射电子显微镜的结构与成像原理 §8.2 主要部件的结构与工作原理 §8.3 透射电子显微镜分辨本领和放大倍数的测定§8.4透射
现代材料分析方法第八章_表面分析技术
- 第八章 表面分析技术 - 本章简要介绍两种表面分析仪器和技术: - (1)X射线光电子能谱仪(XPS);(2)俄歇电子能谱仪(AES);
现代材料分析方法(6-AES)
- Auger电子能谱(AES)Auger Electron spectroscopy - AES Auger效应 - 1925年Pier
材料分析方法前言
- - 1986年1月28日,美国挑战者号航天飞机升空仅仅1分12秒就坠毁,7名宇航员全部遇难,直接经济损失12亿美元。 - 挑战
2020年现代材料分析方法真题精选
2020 年现代材料分析方法真题精选[填空题]1 简述透射电子显微成像中,层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同?用什么办法及根据什么特征才能将它们区分开来?参考答案:由于层错区域衍射波振
材料分析方法绪论
- 《材料分析方法》 贵州大学材料与冶金学院 - - 绪 论 - 一、材料的组织结构与性能二、显微组织结构的内容三、
现代材料分析方法实验课讲义X射线衍射分析2学时11
- X射线衍射分析实验 - 陈德良 博士 副教授 - dlchen@zzu.edu.cn - 窟擂浮足篷碑根杉剿匙肯须搅午氓这获噪