X射线光电子能谱(XPS)---课件

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X射线光电子能谱分析(XPS)

第18章 X射线光电子能谱分析18.1 引言 固体表面分析业已发展为一种常用的仪器分析方法，特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有：X射线光电子能谱（XPS

X射线光电子能谱XPS

- X射线光电子能谱XPS - - 本讲稿第一页，共六十九页 - 1887年，海因里希·鲁道夫·赫兹发现了光电效应.

X射线光电子能谱分析(XPS)

X射线光电子能谱分析（XPS）1. X射线光电子能谱技术X射线光电子能谱技术（X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种表面分析方法， 使用X射线去辐射样品，

X射线光电子能谱分析课件

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X射线光电子能谱

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X射线光电子能谱分析方法及原理(XPS)

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第八章X射线光电子能谱(XPS)

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