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电子元器件失效分析技术与失效分析经典案例
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失效分析案例
失效分析案例1:电浪涌导致器件失效 某产品在用户现场频频出现损坏,经过对返修单板进行分析,发现大部分返修单板均是某接口器件失效,对器件进行解剖后,在金相显微镜下观察,发现器件是由于EOS导致内部铝线融