椭偏仪实验报告
利用椭圆偏振仪测量薄膜厚度摘要:本实验利用国产TP-77型椭圆偏振测厚仪(釆用单色光源,波长为632. 8nm),测 出了被测样品(折射率为1.48)的厚度。在入射角和反射角均为70。的条件下,通过观
椭偏仪实验报告