椭偏仪实验报告

利用椭圆偏振仪测量薄膜厚度摘要：本实验利用国产TP-77型椭圆偏振测厚仪（釆用单色光源，波长为632. 8nm）,测 出了被测样品（折射率为1.48）的厚度。在入射角和反射角均为70。的条件下，通过观

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告组别：69组 院系：0611 姓名：林盛 学号：PB06210445实验题目：椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验目的：了解椭偏仪测量薄膜参数的原理，初步掌握

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告组别：69组    院系：0611  姓名：林盛  学号：PB06210445实验题目：椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验目的：了解椭偏仪测量薄膜参数的原理，初步掌握反射

椭偏仪测薄膜参数实验讲义

实验十四 椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率在近代科学技术的许多部门中对各种薄膜的研究和应用日益广泛．因此，更加精确和迅速地测定一给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要．在实际工作中虽然可以利用各种传统的

椭偏仪操作规程

椭偏仪操作规程目的使用椭偏仪测量经PECVD镀膜后的SiN膜的厚度(d)和折射率(n).适用范围适用于CENTECH公司的SE 400advaneed型号的椭偏仪设备主要性能及相关参数设备型号：SE

深紫外宽光谱成像椭偏仪的研制的开题报告

深紫外宽光谱成像椭偏仪的研制的开题报告一、研究背景深紫外光谱成像技术是一种高分辨率、高精度的光学成像技术，能够对物质的表面、内部结构和化学成分进行精确的分析研究。然而，传统的光谱成像技术在深紫外波段上

椭偏仪原理

摘要椭偏术是一种利用线偏振光经样品反射后转变为椭圆偏振光这一性质以获得样品的光学常数的光谱测量方法。本文主要介绍了椭偏仪的光学原理。比较了不同类型椭偏仪的异同点，对椭偏仪的工作特点和应用进行了说明，并

椭偏仪

- 椭偏仪实验 - 南京理工大学物理实验中心 徐永祥 - 近代物理实验 - 一、背景介绍二、实验目的三、实验仪器四、实验原

椭偏仪原理样稿

摘要椭偏术是一个利用线偏振光经样品反射后转变为椭圆偏振光这一性质以取得样品光学常数光谱测量方法。本文关键介绍了椭偏仪光学原理。比较了不一样类型椭偏仪异同点，对椭偏仪工作特点和应用进行了说明，并展望了以

JAWoollam椭偏仪简介

J.A.Woollam公司于1987年由Woollam教授等创办。公司是由内布拉斯加州立大学的科研成果为基础衍生而来的专业生产光谱型椭圆偏振测量仪的厂商，公司研发、生产多种不同规格型号的椭偏仪，没有与

用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度

用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度忻获麟（北京大学物理系，00104005，实验日期：十五周星期四）实验目的学习使用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度实验仪器椭偏仪，激光器，样品等实验原理一、 基本原理反射

赵应用椭偏仪准确测量波片相位延迟[纲要]

赵应用椭偏仪准确测量波片相位延迟[纲要]利用消光椭偏仪精确测量波片相位延迟量1.引言 波片是基于晶体双折射性质的偏振器件，在光纤技术、光学测量以及各种偏[1~3]振光技术等领域具有广泛的应用。其中1/