基本IC测试原理介绍

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IC测试基本原理

本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理， 内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。  第一章 数字集成电路测试的基本原理 

IC测试原理解析第一部分-芯片测试

IC测试原理解析 (第一部分)本章主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理， 内容覆盖了基本测试原理，影响测试方案的基本因素以及IC测试中的常用术语。第一章 数字集成电路测试的基本原理

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