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现代材料分析方法第八章透射电子显微镜
- 第八章 透射电子显微镜 - §绪论 §8.1 透射电子显微镜的结构与成像原理 §8.2 主要部件的结构与工作原理 §8.3 透射电子显微镜分辨本领和放大倍数的测定§8.4透射
现代材料分析方法第八章透射电子显微镜
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现代材料分析方法第八章透射电子显微镜
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材料分析方法第八章扫描电子显微镜与电子探针显微分析
- 引 言 - SEM用于材料分析的特点① 仪器分辨本领较高。二次电子像分辨本领可达1.0nm(场发射),3.0nm(钨灯丝);② 仪器放大倍数变化范围大(从几倍到几十万倍),且
材料分析方法第八章电子显微镜与电子探针显微分析
- 第八章 扫描电子显微镜与电子探针显微分析 - 内容提要:第一节 电子束与固体样品相互作用时 产生的物理信号第二节 扫描电子显微镜的结构和工作原理第
现代材料分析方法电子显微镜
- - - 扫描电镜的优点 - ①分辨率比较高,二次电子象②放大倍数连续可调,几十倍到二十万倍③景深大,立体感强④试样制备
现代材料分析方法第十二章电子显微镜
- 第十二章 扫描电子显微镜 - - 第十二章 扫描电子显微镜 - 优点电子束与固体样品相互作用扫描电镜结构原理主要性
材料分析方法 第八章 扫描电子显微镜与电子探针显微分析
- 第八章 扫描电子显微镜与电子探针显微分析 - 内容提要:第一节 电子束与固体样品相互作用时 产生的物理信号第二节 扫描电子显微镜的结构和工作原理第
现代材料分析方法第十二章电子显微镜ppt课件
- 第十二章 扫描电子显微镜 - 10/7/2023 - 1 - - 第十二章 扫描电子显微镜
材料分析方法第八章扫描电子显微镜与电子探针显微分析ppt课件
- 第八章 扫描电子显微镜与电子探针显微分析 - 内容提要:第一节 电子束与固体样品相互作用时 产生的物理信号第二节 扫描电子显微镜的构造和任务原理第
现代材料分析方法-原子力显微镜
- 第五章 原子力显微镜 Atomic Force Microscope __ AFM - 原于力显微镜与前几种显微镜相比有明显不同,它用一个微小的探
现代材料分析方法-原子力显微镜
- 第五章 原子力显微镜 Atomic Force Microscope __ AFM - 原于力显微镜与前几种显微镜相比有明显不同,它用一个微小的探