电子元器件失效分析技术及经典案例(李少平)资料.doc

电子元器件失效分析技术及经典案例【时间地点】 2012年11月09-10日 深圳 | 2012年11月16-17日 苏州 【参加对象】 电子元器件､电路板或整机企业的设计工程师､质量工程师､工艺工程师

最新失效分析经典案例分享.

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失效分析经典案例

失效分析经典案例第二讲 失效分析经典案例工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室）研究分析中心李少平020－87237725失效分析经典案例主要内容主要内容（1） 失效分析全过程案例（2） 静电与