腾讯文库搜索-椭圆偏振测厚实验
用椭圆偏振仪测量薄膜的厚度和折射率
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光的左旋右旋椭圆偏振特性
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椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率资料
实验15 椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率 在近代科学技术的许多部门中对各种薄膜的研究和应用日益广泛.因此,更加精确和迅速地测定一给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要.在实际工作中虽然可以
并行快速椭圆偏振分析方法的研究中期报告
并行快速椭圆偏振分析方法的研究中期报告尊敬的评委、老师们:大家好,我是本次研究中期报告的报告人。本文将简要介绍我的研究课题“并行快速椭圆偏振分析方法”的最新进展情况。一、研究背景椭圆偏振光具有独特的电
偏振光学线偏振双折射圆偏振和椭圆偏振jones矢量和jones矩阵
偏振光学• 线偏振• 双折射• 圆偏振和椭圆偏振• Jones矢量和Jones矩阵• 电光、旋光与磁光效应一、线偏振线偏振横电磁波是电磁波方程和Maxwell方程的解• 具有电场 和磁场 ,两者互相垂
椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率
椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率在近代科学技术的许多部门中对各种薄膜的研究和应用日益广泛.因此,更加精确和迅速地测定一给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要.在实际工作中虽然可以利用各种传统的方法测定光
用椭圆偏振仪测量薄膜的厚度与折射率
用椭圆偏振仪测量薄膜的厚度一 实验目的1、了解椭圆偏振法的基本原理;2、学会用椭圆偏振法测量纳米级薄膜的厚度和折射率.二 实验仪器TPY-1型椭圆偏振测厚仪,计算机三 实验原理:椭圆偏振测厚技术
深紫外成像光谱椭圆偏振仪校准方法研究中期报告
深紫外成像光谱椭圆偏振仪校准方法研究中期报告一、研究背景深紫外成像光谱椭圆偏振仪是一种用于表征材料光学性质的仪器,它可以同时测量材料的透射和反射光谱,并得到各向异性参数,如椭圆偏振率、偏振角和相位差等
草酸中铝阳极氧化的原位椭圆偏振光谱的研究(可编辑)
草酸中铝阳极氧化的原位椭圆偏振光谱的研究(可编辑)草酸中铝阳极氧化的原位椭圆偏振光谱研究. ? 重庆大学硕士学位论文 学术学位 学生姓名:郑莎 指导教师:雷惊雷教授 业:物理化学 专 学科门类:理学
SGC-2型自动椭圆偏振测厚仪使用说明书
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薄膜材料的椭圆偏振数据分析方法 李威
第 卷 第年期光 谱 实 验 室月薄膜材料的椭圆偏振数据分析方法李 威上海交通大学分析测试中心摘 要①金承钰上海闵行区东川路 号椭圆偏振的数据处理一直存在很多 困难 本文是作者从事椭偏数据分析工作的经
TP-TPY-2型自动椭圆偏振测厚仪要点
TP-TPY-2型 自动椭圆偏振测厚仪使用说明书V1.0北京亚欧德鹏科技有限公司北京恒奥德仪器仪表有限公司目录 TOC \o "1-5" \h \z HYPERLINK \l "bookmark2"